4001-123-022 
-
SEM掃描電鏡分析技術(shù)，助力頁巖油勘探開發(fā)的介紹
掃描電鏡對巖石樣本要求非常高，頁巖取芯難度很大，層多且薄又易碎，手工處理樣品要格外掌握好力度、技巧。...
2023-02-10
-
顯微鏡下細胞數(shù)目的兩種計算方法 - 分析行業(yè)新聞
有兩種類型，一是光學顯微鏡觀察到的顯微結(jié)構(gòu)，二是電子顯微鏡觀察到的亞顯微結(jié)構(gòu)?！ 」鈱W顯微鏡由于受放大倍數(shù)和分辨率的限制，觀察到細胞中的結(jié)構(gòu)比較局限，可以看到 細胞核、葉綠體、液泡等較大的結(jié)構(gòu)的基本形態(tài)?！ ‰娮语@微鏡可以觀察到更加細致的結(jié)構(gòu)，如線粒...
2023-02-09
-
SEM掃描電鏡在材料微納米尺度結(jié)構(gòu)表征中的應(yīng)用介紹
掃描電鏡被認為是科學研究中Z通用、功能強大的工具之一，因為與光學顯微鏡相比，它具有更高的空間分辨率（高放大倍率），并且可以通過光譜分析具備化學成分分析能力。...
2023-02-09
-
光學顯微鏡與數(shù)碼顯微鏡的異同 - 分析行業(yè)新聞
普通的光學顯微鏡就是利用光學原理，將人眼不能分辨的細小物體放大到我們能夠分辨的大小，數(shù)碼顯微鏡的原理與光學顯微鏡的原理一樣，不同的是它能通過電子元件把圖像呈現(xiàn)到相機或者顯示屏上。 &nb...
2023-02-08
-
普通光學顯微鏡知識詳解：結(jié)構(gòu)（一） - 分析行業(yè)新聞
普通光學顯微鏡是一種精密的光學儀器。以往*簡單的顯微鏡僅由幾塊透鏡組成，而當前使用的顯微鏡由一套透鏡組成。普通光學顯微鏡通常能將物體放大1500—2000倍。（一）顯微鏡的構(gòu)造 普通光學顯微鏡的構(gòu)造可分為兩大部分：一為機械裝置，一為光學系統(tǒng)，這兩部分很好的配...
2023-02-08
-
SEM掃描電鏡在微生物腐蝕研究中的應(yīng)用介紹
SEM掃描電鏡在微生物腐蝕研究中的應(yīng)用介紹：近年來，隨著科學技術(shù)的不斷發(fā)展，人類對海洋的探索和需求不斷深入。而船舶是海上運輸?shù)闹饕ぞ?，由于海上環(huán)境的復雜性，對船舶所用鋼材的結(jié)構(gòu)性能及耐腐蝕性的要求JI高，不但要耐大氣腐蝕、耐海水腐蝕，還要耐微生物腐蝕[1,2]。...
2023-02-08
-
光片顯微鏡的前世今生 - 分析行業(yè)新聞
光片熒光顯微鏡（Light Sheet Fluorescence Microscopy, LSFM）的概念產(chǎn)生于1903年，但此后很長時間并無太多發(fā)展。上世紀九十年代，華盛頓大學的Francis Spelman實驗室為了對小鼠毛細胞的結(jié)構(gòu)和耳蝸的其他特...
2023-02-07
-
你知道SEM掃描電鏡像的襯度是什么嗎？
掃描電鏡圖像的襯度是信號襯度，它可定義為：根據(jù)形成的依據(jù)，SEM掃描電鏡的襯度可分為形貌襯度，原子序數(shù)襯度和電壓襯度。...
2023-02-07
-
金相顯微鏡與掃描電鏡的區(qū)別有哪些？ - 分析行業(yè)新聞
金相顯微鏡是用于觀察具有入射照明的金屬樣品（金相組織）表面的顯微鏡。它結(jié)合了光學顯微技術(shù)、光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、計算機圖像處理技術(shù)。高科技產(chǎn)品可以在計算機上輕松觀察金相圖像，從而可以對金相圖進行分析，分級等，輸出圖像為。金相顯微鏡是一種光學顯微鏡。相對于電子顯微鏡，...
2023-02-06
-
你知道SEM掃描電鏡的選購方法嗎？
在選購掃描電鏡之前，各位商家朋友、廠家用戶等群體，都需要搞清楚自己的實際使用需求。因為不同型號的設(shè)備在檢測產(chǎn)品方面可能存在差異，除此之外，操作以及功能方面也存在不同。大家一定要根據(jù)被檢測物體，從而來選擇適合的SEM掃描電鏡。2、除了確定被檢測物體外，還需要確定運行掃描電鏡環(huán)境當中的電流、電壓等相關(guān)數(shù)據(jù)...
2023-02-06
-
顯微鏡放大倍數(shù)的計算方法 - 分析行業(yè)新聞
初次使用光學顯微鏡的人員，可能會顯微鏡的倍數(shù)會比較疑惑，到底總放大倍數(shù)是怎么計算的，拍攝的照片又是放大了多少倍。總放大倍數(shù)有兩種概念，一種是光學放大倍數(shù)，一種是數(shù)碼放大倍數(shù)（只有連接成像設(shè)備時才會涉及到數(shù)碼放大倍數(shù)）。 1.光學放大倍數(shù)。是指我們從...
2023-02-05
-
開爾文探針力顯微鏡的開爾文探針力顯微鏡 - 分析行業(yè)新聞
原子力顯微鏡（atomic force microscope，簡稱AFM），也稱掃描力顯微鏡（scanning force microscope，SFM）是一種納米級高分辨的掃描探針顯微鏡，優(yōu)于光學衍射極限1000倍。原子力顯微鏡的前身是掃描隧道顯微鏡，...
2023-02-05
津公網(wǎng)安備12011002023086號
首頁
產(chǎn)品
案例
聯(lián)系